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產(chǎn)品展示
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高性能比表面及微孔分析儀

描述:BSD-PSM高性能比表面及微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì),模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。

更新時(shí)間:2024-06-21
產(chǎn)品型號(hào):BSD-PSM
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
瀏覽次數(shù):1636
詳情介紹
品牌貝士德儀器原理靜態(tài)法(靜態(tài)體積法)
壓力范圍真空-常壓測(cè)試?yán)碚?/th>BET BJH HK DA DR NLDFT QSDFT
測(cè)試范圍比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm㎡/g分析站數(shù)目1/2
價(jià)格區(qū)間30萬(wàn)-50萬(wàn)產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
儀器種類比表面及孔徑分析儀應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,石油,能源

BSD-PSM高性能比表面及微孔分析儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:BSD-PSM高性能比表面及微孔分析儀,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì),模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。


 產(chǎn)品特點(diǎn):


?      ◆  2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站2個(gè)樣品分析站,1個(gè)P0測(cè)試位,2路獨(dú)立冷阱;

           (名稱:靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的凈化預(yù)處理裝置,號(hào):ZL201120136943. 9)

 ◆  雙通道微孔測(cè)試,提升微孔分析效率;

 ◆  脫氣系統(tǒng)和分析系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)*獨(dú)立運(yùn)行,互不干擾;

 ◆  全程自動(dòng)化智能化運(yùn)行,無(wú)需人工值守,親和的真人語(yǔ)音操作提示;

 ◆  BEST多路歧管模塊,英??禉z漏儀出廠檢測(cè),保證儀器真空度和穩(wěn)定性;

 ◆  獨(dú)立的高精度飽和蒸汽壓(P0)實(shí)時(shí)測(cè)試站;

           (名稱:靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸汽壓測(cè)試裝置.號(hào):ZL201120136959.X)

 ◆  雙冷阱保護(hù)真空系統(tǒng)和分子泵;

           (名稱:具有除塵防污染裝置的靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀.號(hào):201320045881.X)   

◆ 脫氣處理:2.4.8個(gè)預(yù)處理站可選,采用全自動(dòng)程序控制,定時(shí)開(kāi)始、真空泵自動(dòng)啟停、程序升溫、定時(shí)結(jié)束,可實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守測(cè)試和樣品脫氣處理。

 ◆  智能自檢流程,智能判斷樣品管是否安裝,試管夾套是否擰緊有無(wú)漏氣;

 ◆  詳盡的儀器運(yùn)行日志顯示與記錄,可精確到秒,全程實(shí)驗(yàn)記錄可追溯;

 ◆  *的穩(wěn)定性,即使意外斷電、斷線,不會(huì)丟失當(dāng)前數(shù)據(jù),且實(shí)驗(yàn)可恢復(fù)繼續(xù)進(jìn)行;

 ◆  液氮杯防意外“安全下降"智能控制機(jī)制,*避免了液氮杯意外下降氣體膨脹使樣品管爆裂的危險(xiǎn);

 ◆  智能雙模式投氣量控制,在保證實(shí)驗(yàn)精度的前提下提高實(shí)驗(yàn)效率;

 ◆  4路獨(dú)立進(jìn)氣,可支持CO2,Ar等其他氣體吸附;

 ◆  大容量小口徑杜瓦瓶保溫時(shí)長(zhǎng)大于140小時(shí),連續(xù)測(cè)試96小時(shí)無(wú)需添加液氮;

 ◆  多項(xiàng)技術(shù)保障儀器穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性;

 ◆  雙站微孔測(cè)試功能可選配;

 測(cè)試?yán)碚摚?/strong>


?     ◆  吸附、脫附等溫線;

 ◆  BET單點(diǎn)法,多點(diǎn)法比表面  朗格繆爾(Langmuir)比表面;

 ◆  統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面(STSA)粒度估算報(bào)告和真密度;

 ◆  BJH法吸脫附孔容孔徑分布;

 ◆  MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布;

 ◆  t-plot法微孔分析;

 ◆  MP法(Brunauer) 微孔分析;

 ◆  D-R法微孔分析;

 ◆  HK法微孔分析;

 測(cè)試報(bào)告:

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