BSD-PSM型全自動(dòng)比表面及孔徑分布孔結(jié)構(gòu)分析儀

全自動(dòng)比表面及孔徑分布孔結(jié)構(gòu)分析儀性能參數(shù)

脫氣預(yù)處理系統(tǒng)：

脫氣站數(shù)量：2個(gè)預(yù)處理站；真空脫氣，不采用氣流吹掃方式；

全自動(dòng)脫氣：不采用分體式的手動(dòng)控制，而是采用與主機(jī)一體的全自動(dòng)程序控制，定時(shí)開始、真空泵自動(dòng)啟停，程序升溫、定時(shí)結(jié)束，實(shí)現(xiàn)無人值守測(cè)試和樣品脫氣處理；

獨(dú) 立 性：測(cè)試系統(tǒng)和脫氣系統(tǒng)相互獨(dú)立，樣品的測(cè)試過程和脫氣處理可同時(shí)進(jìn)行；

2組獨(dú)立控溫：可設(shè)置2組不同脫氣溫度、不同脫氣時(shí)間；

脫氣模式：具有“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式"和“分子置換模式"兩種可選功能；

多措施防污染：

? 措施①：渦旋降塵原理的非阻隔式硬件防污染裝置，如下圖；

? 措施②：程序控制的分級(jí)抽速自動(dòng)切換，防止瞬間高真空時(shí)樣品飛揚(yáng)；

? 措施③：程序升溫，防止樣品劇烈升溫揚(yáng)析沸騰；

? 措施④：脫氣完畢程控自動(dòng)回填氮?dú)猓?/span>

分析測(cè)試系統(tǒng)：

測(cè)試范圍：比表面0. 0005m2/g至無上限；

孔徑：0.35-500 nm(微孔常規(guī)分析: 0. 35-2nm; 介孔分析: 2nm-50nm; 大孔分析: 50nm-500nm)；

總孔體積：0.0001cc/g至無上限。

分 析 站：1個(gè)分析站。

測(cè)量精度：比表面積重復(fù)精度≤± 1.0%，zui可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面積≤± 1.5%。

獨(dú) 立P0站：具有獨(dú)立的飽和蒸汽壓(P0)測(cè)試站，保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性。

溫區(qū)測(cè)試：根據(jù)“國標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)"利用“氦氣"測(cè)試溫區(qū)體積，使測(cè)試精度更高，重復(fù)性更好。另外，也可以通過“氮?dú)?測(cè)試得到溫區(qū)體積(弊端：如果使用氮?dú)鉁y(cè)試溫區(qū)體積，由于某些吸附能力較強(qiáng)的材料對(duì)氮?dú)庥形?，造成溫區(qū)體積偏差，從而影響測(cè)試精度)。

氣路系統(tǒng)：貝士德儀器*的BSD“模塊"歧管系統(tǒng)，對(duì)基準(zhǔn)腔及控制閥門進(jìn)行整體集成設(shè)計(jì)，無任何螺紋密封及管路壓接或焊接接口，將真空管路減少90%以上，*消除漏氣點(diǎn)，整個(gè)系統(tǒng)漏氣率低于10^-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，達(dá)到進(jìn)口儀器水平，*的提升了儀器的穩(wěn)定性和精確度；氣路系統(tǒng)各部分統(tǒng)籌進(jìn)行模塊化組裝，*減少故障率，大幅增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性。

管路通徑：大通徑是高真空的*條件，脫氣位和測(cè)試位采用大通徑閥門和管路，使真空泵的極限真空得到zui大效果的體現(xiàn)。

控制系統(tǒng)：采用*日本SMC氣控閥和電磁閥組合應(yīng)用，*杜絕因電磁閥發(fā)熱產(chǎn)生的氣體受熱膨脹問題。

真空系統(tǒng)：儀器配備兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng)，既脫氣系統(tǒng)和分析系統(tǒng)相互獨(dú)立；極限真空達(dá)到10^-2Pa，避免由一套真空系統(tǒng)而帶來的污染問題；

真 空 泵：*雙級(jí)機(jī)械真空泵，全程軟件自動(dòng)啟停控制，實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)化操作。              

壓力測(cè)量：每個(gè)分析站都配有*電容硅薄膜雙壓力傳感器，分段測(cè)試：0-1000torr，0-1torr；讀數(shù)精度≤0.15%，為目前壓力傳感器的zui高精度；大孔段具有P0的實(shí)時(shí)測(cè)試功能，使P/P0在趨于臨界點(diǎn)時(shí)的控制精度達(dá)到0.998；

液 氮 杯：配備了3L大容量小口徑玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶，相對(duì)敞口不銹鋼內(nèi)膽的保溫性能大幅提升，保溫時(shí)長(zhǎng)大于140小時(shí)，可連續(xù)測(cè)試90小時(shí)以上無需添加液氮，適應(yīng)微孔長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試需求。

液位控制：貝士德*的液氮面伺服保持系統(tǒng)，消除測(cè)試過程中由于液氮揮發(fā)使液氮面變化而帶來的死體積變化，提高測(cè)試精度；

標(biāo)定氣體：配備99.999%高純HE；具有HE氣死體積測(cè)試功能和溫區(qū)測(cè)試功能；可獲得更高的準(zhǔn)確性。

測(cè)試氣體：高純氮?dú)饧案鶕?jù)用戶需要可選擇多種氣體，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路獨(dú)立進(jìn)氣口。

樣品類型：粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。

售后服務(wù)：專業(yè)且完善的售后服務(wù)系統(tǒng)，可提供24小時(shí)咨詢，48小時(shí)內(nèi)*，北京，上海，廣州均設(shè)有服務(wù)機(jī)構(gòu)，全力保障用戶儀器正常運(yùn)行

適用標(biāo)準(zhǔn)

GB.T 5816-1995催化劑和吸附劑表面積測(cè)定法

GB.T 7702.21-1997煤質(zhì)顆粒活性炭試驗(yàn)方法比表面積的測(cè)定

GB.T 10722-2003炭黑_總表面積和外表面積的測(cè)定氮吸附法

GB.T 11847-89二氧化鈾粉末比表面積測(cè)定多點(diǎn)BET法

GB.T 13390-1992 金屬粉末比表面積的測(cè)定 氮吸收法（含動(dòng)態(tài)）

GB.T 19587-2004氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積（含動(dòng)態(tài)）

GB.T 20170.2-2006稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物比表面積的測(cè)定

GB.T 21650.3-2011/ISO 15901-3: 2007壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第3部 分：氣體吸附法分析微孔

GB.T 21650.2-2008/ISO 15901-2: 2006壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第2部分 氣體吸附法分析介孔和大孔

SY/T 6154-1995 巖石比表面和孔徑分布測(cè)定 靜態(tài)氮吸附容量法

HG/T 2347.8-1992 γ-Fe2O3磁粉比表面積的測(cè)定

測(cè)試報(bào)告：